半（bàn）導體設備

半導體設備

更好的清晰度
高達670萬像素的圖（tú）像分辨率提供令人滿意的亮（liàng）度、對比度、空間分辨率、景深以及灰度，向您呈現更（gèng）清晰（xī）的圖像，並進一步簡化您的分析。
更快（kuài）速（sù）的檢測
高（gāo）達30幀（zhēn）/秒（miǎo）的增（zēng）強版實時檢測技術可實現實時圖像處（chù）理，快速提供最佳圖片以最大化處理量。
保持（chí）圖像銳度（dù）
QuadraNT™ X射線管提供的高分（fèn）辨率圖像在高倍放大下仍能保持無與倫比的清晰（xī）度（dù）QuadraNT™為您提供銳利清（qīng）晰的圖像，特（tè）征分辨率為0.1微米時（shí），目標功率達10瓦，或特征分辨率為0.3微（wēi）米時，目標（biāo）功率達20瓦。
易於使用（yòng）
機殼的設計符合人體工程學，可（kě）優化用戶（hù）與係統交（jiāo）互（hù）的方式操作人員可（kě）迅速（sù）啟動和運行可直觀操作的Gensys™檢測軟件。

獨特的集成（chéng）技術
Explorer™ one 在（zài）圖像鏈（liàn）的（de）每個步驟都具有專有技術，從生成和檢測X射線（xiàn）到圖像增強和測量。每個組件都有一個目的：為電子檢測創建最高質量的圖像。
Quadra^® X射線管技術
高質量（liàng）的圖像從X射線源開始。Explorer one使用QuadraNT^®X射線管技術（shù）（也適用於我（wǒ）們的Quadra係列X 射線檢（jiǎn）測工具）在每個功率級提供市場領先的圖像質量，而無需維（wéi）護。
專門（mén）設計用於電子器件的檢測
能查看小（xiǎo）至2μm的產品特性，這種高清細節的檢測功能與隻是檢測鍵合是否存在有著很大的區別。專為Explorer one 開發的AspireFP® one平板探測器經過優（yōu）化，能在電子樣品中實現最高對比度。
顯示最精細的細節
超過30種先進的過（guò）濾器可以（yǐ）顯示最清晰的圖像並展示最精細的細節，讓您更（gèng）快（kuài）地找到特征（zhēng）和缺（quē）陷。
一（yī）直朝上
絕對不會看錯（cuò）方向。無論您從哪（nǎ）個側麵觀察，Explorer one 獨特的雙軸傾（qīng）斜觀察功（gōng）能均可使電路板朝上，樣品（pǐn）肯定不（bú）會旋轉。

Jade Plus可以獨特地檢測您的產品品質。
內置尺（chǐ）寸測量工具（jù）、BGA空洞分析（xī）、凸點直徑（jìng）和（hé）圓度（dù）以及通孔填充，可快速查找並表征缺（quē）陷（xiàn），幫（bāng）助您達到IPC-A-610和（hé）IPC-7095合（hé）規標準。
0.95μm解析度決定了是否能在無源元（yuán）件中發現微裂（liè）紋。
諾（nuò）信DAGE雙傾斜角探（tàn）測器的獨特幾何結構是檢測缺陷的最快路徑，而這些缺陷僅在特定視角下（xià）才能看見。
第四代開放管（guǎn）技（jì）術非常適合以（yǐ）微米（mǐ）級解析（xī）度檢測電子樣品。
Gensys軟（ruǎn）件專為電（diàn）子檢測而開發，將全麵的測量（liàng）工具（jù）和自動（dòng）化整合到一個可以快速學會的直觀點擊（jī）式平台中，因此您可以更快地獲得最大的生產力。
QuadraGEN專為Quadra®係列（liè）高解析度X射線檢測係統而設計，可提供高質量X射線圖像所（suǒ）需的功率和穩定性。